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    OLED 器件光谱仪扫描式IVL、寿命丈量

    OLED 器件光谱仪扫描式IVL、寿命丈量

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    多片带视角OLED器件IVL主动测试体系

    次要使用于OLED质料和OLED屏体消费工场,满意客户大批量的OLED器件的IVL特征和亮度视角特征测试需。体系特点1.大批量器件的测试体系配有多通道电路选择器,可支持多达24片共96个发光点的OLED器件顺次点亮测试(详细器件和发光点数目···

    多片OLED器件IVL主动测试体系

    在仅需大批量IVL测试而无需视角测试的状况下,可以选择多片不带视角的常温IVL测试工位,以及一个上下温控的测试工位。

    浅易型单工位的OLED器件IVL及视角测试体系

    体系概述关于OLED科研类机构用户,仅思索测试功效和精度,不思索测试服从的状况下,可选择单工位的IVL及视角测试体系。与多工位机台相比,仅保存一个带视角的工位和治具,机台尺寸更紧凑。同时可取消选配产业视觉对位相机。

    可置于手套箱内的紧凑型OLED器件IVL及视角测试体系

    体系概述三轴直线挪动+一轴夹具旋转IVL测试机台的尺寸设计紧凑,可置于手套箱内举行器件的IVL和视角测试。丈量功效:IVL及余玄朗伯图测试体系(内置手套箱内,用于未封装器件测试)。

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