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OLED器件光谱仪扫描式寿命丈量

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光谱仪扫描式的OLED器件寿命测试

体系概述硅光电寿命测试机台提供了一种经济型的OLED器件寿命测试方法,但受限于硅光电关于可见光光谱的呼应曲线与CIE的人眼视觉函数不克不及完全婚配,当器件在寿命衰减历程中光谱外形产生变革,或光谱波峰产生偏移时,其测得的绝对亮度值就不在正确。为了···

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