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    OLED 器件硅光电式上下温寿命丈量

    OLED 器件硅光电式上下温寿命丈量

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    常温情况下硅光电式的OLED器件寿命测试FS-MP系列

    体系概述本体系有多组独立的丈量通道。每组丈量通道有独立的电压输入、电流输入、电压丈量、电流丈量、绝对亮度丈量。每组丈量通道可以独立设置丈量参数,包罗三段丈量时长、丈量工夫距离、中止丈量判断条件等。每组通道均可以独立开端丈量和中止丈量。数据报···

    低温情况下硅光电式的OLED器件寿命测试FS-MP-HT

    体系概述夹具底部带有加热板,使用低温减速OLED器件的老化,举行指定低温条件下的器件寿命测试。加热工位参数温度范畴: 室温 - 100 ℃ (室温 -120℃可选)温度精度: ±1℃,温度动摇±0.2℃软件功效(1) 丈量形式:恒压、恒流、···

    情况温湿度控制下的OLED器件寿命测试

    体系概述依据用户差别温湿度情况测试需求,可增长低温箱、上下温箱、恒温恒湿箱等,对器件的寿命测试情况举行控制。其温度控制范畴、湿度控制范畴和多层腔式均可依据客户的需求订制。体系特点制止低温对硅光电测试影响的设计方案硅光电二极督工作温度范畴-2···

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